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什么是BIST测试技术
内建自测（Built-in Self Test） 简称BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE
汽车功能安全整体方法
2024-05-12 07:04:03 32 阅读
【汽车功能安全】NXP SKXX之STCU
原文地址:https://blog.csdn.net/TommiWei/article/details/138583699
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