SI案例分享--AMI模型在测试中的应用

目录

0 引言

1 AMI模型

2 新的验证方法

3 应用案例

案例01--使用BER信号源和Rx AMI模型进行MIPI M-PHY的预合规测试

案例02--使用Tx测量信号和Rx AMI模型进行USB4.0的预合规测试

案例03--压力眼图的校准

案例04--MIPI M-PHY内置眼图测试与仿真

3 总结


0 引言

        在高速数据通信系统中,复杂的信号处理技术采用先进的收发器来缓解信道损伤。发射机(Tx)利用FFE来增强输出信号,而接收机(Rx)实现了更复杂的功能,如AGC、CTLE、FFE、DFE和CDR。评估端到端链路性能和优化系统配置通常需要分析Rx后处理信号。然而,直接测量RX设备内部的信号是不切实际的。

        Tx和Rx的功能可以用符合IBIS标准的AMI模型来表示,目前,大多数芯片供应商可以为他们的Tx和Rx设备提供AMI模型。AMI模型作为数据流块运行,取输入波形并生成输出波形,通过仿真,可以获取RX内部的信号。 但是,为了追求真实性,设计者对使用Rx AMI模型处理测量的输入信号有很大的兴趣,因此,本文介绍了一种利用Rx AMI模型来模拟基于所测量的输入波形的Rx后处理信号的创新方法。

1 AMI模型

        传统的IBIS模型有效地代表了发射机和接收机的模拟电行为,然而,在先进的高速串行通讯(SerDes)领域,各种均衡技术,如CTLE、FFE、DFE、AGC,加上CDR,被部署在芯片设计中,用于抵消信道损失、码间干扰和信号串扰,为了应对这样的复杂信号设计,AMI(Algorithmic Modeling Interface)接口技术应运而生,并在IBIS 5.0中,AMI流程与传统的IBIS流程一起被引入,AMI算法模型被规范定义在IBIS文件中。

2 新的验证方法

        基于AMI模型的广泛应用,将具体探讨信号测量和AMI模型仿真的相关性,为此,制定了如下的组合工作流程:

        步骤1:使用数字示波器测量Rx设备输入端口的信号波形;

        步骤2:从步骤1的测量波形中提取信道脉冲响应,并作为Rx AMI_Init函数的输入;

        步骤3a:如果是bit by bit模式,Rx AMI模型中的AMI_GetWave函数将使用步骤1的测量波形作为输入,所得到的输出波形被用于计算后处理过程中的眼图和误码率;

        步骤3b:如果bit by bit模式下,Rx AMI模型中没有AMI_GetWave函数,步骤2中的Rx AMI_Init函数的输出脉冲响应将与数字输入波形进行卷积生成Rx输出波形,以用于眼图和误码率的计算;

        步骤3c:如果是统计模式,将会直接使用步骤2中的Rx AMI_Init函数的输出脉冲响应计算眼图和误码率。

        从整个步骤的描述中不难发现,关键环节是提取测量波形的输入脉冲响应(步骤2),这在实际测试中非常具有挑战性,但是,数字示波器的功能日益强大,已经可以帮助工程师去完成这个复杂的提取操作。

3 应用案例

案例01--使用BER信号源和Rx AMI模型进行MIPI M-PHY的预合规测试

        如下图所示,通过误码仪产生符合MIPI M-PHY 5.0发射规范的波形,通过转接器,将其连接到数字示波器通道中,并在通道配置中串联嵌入有损传输线模型、Rx设备端的封装模型,然后参考MIPI的CTLE和DFE参数,通过示波器应用软件计算出压力眼图。

        与此同时,将误码仪产生的发射信号提取并导入到ADS仿真软件中作为输入激励源,并串联接入有损传输线模型、Rx设备端的封装模型,最后通过供应商提供的Rx端AMI模型模拟出压力眼图。

        两者对比,眼图效果保持了较好的一致性,通过这种方法,可以检查供应商所提供的Rx端AMI模型与规范标准之间的差异。

案例02--使用Tx测量信号和Rx AMI模型进行USB4.0的预合规测试

        与案例01不同,这个示例利用了示波器的去嵌功能(将与Tx芯片相连的PCB通道、线缆的影响去除掉),捕获实际的芯片Tx端波形,并将这个波形导入ADS仿真环境中,与目标PCB通道模型、实际使用的Rx端封装模型和Rx端AMI模型级联,仿真获取所需要的压力眼图和误码率参数。

        这个方法适用于无法从供应商处获取Tx端AMI模型的场景。

案例03--压力眼图的校准

        相比于前面两个案例,这是一个更为高级和复杂的应用,该案例假定Tx PLL的参考时钟出现问题,存在来自于buck电路的1MHz耦合开关噪声,导致Tx抖动的增加,因此,采用数字信号发生器产生有噪声的Tx波形,将其嵌入到目标通道中,并使用Rx AMI模型进行处理,将处理后的信号重新导入到示波器中,利用示波器的时钟恢复功能获取到眼图。这样做的目的是评估CDR滤波器是否可以有效地滤除噪声,并确定Rx的眼图是否违规,如果可行,这种带有噪声的Tx信号就可以用于实际Tx硅芯片的Rx应力测试,并作为评估CDR质量的一种手段。

案例04--MIPI M-PHY内置眼图测试与仿真

        MIPI M-PHY 5.0采用了一种系统内的眼图测量功能,该功能利用CDR方法复制Rx端数据并绘制眼图,尽管标准规定了CDR的参数要求,但在标准与实际实现之间总是会存在差异,如下图所示,左图为根据标准参数定义得到的眼图,中间为内置眼图监视器绘制的眼图,两者在眼高和眼宽参数上存在一定的差距,但是,可以通过示波器上的CDR工具调整其有效带宽,从而使得数据贴合实际的表现(右眼图)。

        案例03和04均可以很好的弥补Rx AMI模型中缺乏CDR函数的情况。

3 总结

        为了解决Rx AMI模型在信号处理上的局限性,本文探索了一种新的仿真流程,无缝集成了测量和AMI建模仿真,使得测试和仿真之间的界线变得越来越模糊,这也预示着,在未来的研发设计中,信号仿真和测量将会交织得更为紧密,不能再用孤立的眼光看待彼此。

本文翻译整理自DesignCon 2024中发表的“Using measured waveform data in AMI simulation for system design” 

扩展阅读

IBIS AMI Model 算法模式的选择_ibis算法建模-CSDN博客

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