【ARM Coresight 系列文章 3.6 -- ARM Coresight JTAG 与 DFT 测试】

DFT 测试简介

DFT（Design for Testability，可测试性设计）是一种在集成电路（IC）设计过程中使用的技术，旨在通过特定的设计技巧简化对芯片的测试，确保能够高效、准确地检测出制造过程中可能产生的缺陷。几乎所有的公司都会用JTAG来做DFT的验证，在ATE平台上，通过JTAG接口，将pattern向量通过JTAG接口打入chip，然后驱动chip内部的逻辑，并对chip进行验证。

DFT的主要方法

1. 扫描链（Scan Chain）：将芯片内部的触发器（例如，D触发器）连接成串行链路，可以通过这个链路将测试数据串行输入到芯片内部，并捕获内部状态或响应，然后再串行输出。这种方法使得几乎所有的内部逻辑都可以被外部测试设备访问，极大地提高了测试的覆盖率。
2. 内建自测试（BIST，Built-In Self-Test）：在芯片内部集成测试逻辑，使得芯片能够执行自我测试。BIST通常包括测试模式生成器和结果分析器，能够自动生成测试向量并分析测试结果。这种方法可以减少外部测试设备的需求，加快测试过程。memory IP一般自带BIST，简称MBIST）。
3. 边界扫描测试（Boundary Scan）：这是一种依靠芯片边缘的测试点进行的测试方法，它是JTAG（Joint Test Action Group）标准